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量子估计和探测理论及其在成像中的应用

来源:科学技术处、数理系发布时间:2020-07-03

【讲座题目】量子估计和探测理论及其在成像中的应用

【讲座时间】2020年7月6日(星期一)14:00

【讲座地点】腾讯会议 204 881 095

【主 人】陆晓铭  教授

【主讲人简介】

陆晓铭,杭州电子科技大学理学院教授。2006年在浙江大学物理系获得本科学位,2011年在浙江大学物理系获得博士学位。博士毕业后在新加坡国立大学量子技术中心(CQT)和电气及计算机工 程系(ECE)进行博士后研究工作。主要研究兴趣为量子计量学、量子信息、量子成像。迄今为止已在 Nature Communications 等国际著名学术期刊上发表论文 30 余篇,总共已被引用 900 余次。

【内容简介】

介绍关于成像系统分辨率的统计描述。将成像问题转换为参数 估计或者假设检验,运用量子计量学的工具,得到比瑞利标准更好 的度量成像分辨率的方法。以此为基础,揭示关于两个非相干点光 源分辨率的基本量子极限及其优化测量方案。

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